TFT LCM、B/L 廠面板五軸特殊檢測使用

針對光電行業及其周邊相關產業，由於面板尺寸持續擴大，對此大型扁平工件量測，需量測正視與側邊尺寸，過去使用測針式三次元或影像 + 菱鏡嚐試解決此一問題，現在 Multi - View，可一次性檢測各平面之所有尺寸，精準自動量測、無需工件翻面處理。

1. 雙平面非接觸式影像量測，全視野無死角、正視側視影像自動切換。
2. 上下燈源自動控制調整。
3. 自動變焦、自動調焦，不擔心歪斜。
4. 雷射測高，量測厚度達 200 mm。
5. 無探針之量測死角，解決待測工件小孔探針無法伸入、多次移動對位問題，更無需一般三次元量測機台之高成本。

面板 Cell 製程 (貼片前後)、濾光片 (RGB) 尺寸A.O.I自動檢測

對面板玻璃或濾光片及 LCM 各製程之尺寸、污點觀察量測，提供自動化系統專案設計及七代、八代廠設備最佳量測助益 。